電壓作用下電介質(zhì)中產(chǎn)生的一切損耗稱為介質(zhì)損耗或介質(zhì)損失。如果介質(zhì)損耗很大,會使電介質(zhì)溫度升高,促使材料發(fā)生老化,如果介質(zhì)溫度不斷上升,甚至?xí)央娊橘|(zhì)融化、燒焦,喪失絕緣能力,導(dǎo)致熱擊穿,因此,電介質(zhì)損耗的大小是衡量絕緣介質(zhì)電性能的一項重要指標(biāo)。然而不同設(shè)備由于運行電壓、結(jié)構(gòu)尺寸等不同,不能通過介質(zhì)損耗的大小來衡量對比設(shè)備好壞。因此引入了介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ(又稱介質(zhì)損失角正切值)的概念。
電阻率測定儀介質(zhì)損耗因數(shù)的定義：
介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ只與材料特性有關(guān),與材料的尺寸、體積無關(guān),便于不同設(shè)備之間進行比較。
電阻率測定儀應(yīng)用介質(zhì)損耗因素及電阻率測定儀測量介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ判斷電氣設(shè)備的絕緣狀況是一種傳統(tǒng)的、十分有效的方法。它能反映出絕緣的一系列缺陷,如絕緣受潮,油或浸漬物臟污或劣化變質(zhì),絕緣中有氣隙發(fā)生放電等。這時流過絕緣的電流中有功分量IRX增大了,tgδ也加大。
按照電力設(shè)備預(yù)防性試驗規(guī)程的規(guī)定,對多種電力設(shè)備(如電力變壓器、發(fā)電機組、高壓開關(guān)、電壓電流互感器、套管、耦合電容等)都需要做介質(zhì)損耗因素(tgδ)的測量。
所以tgδ試驗是一項*而且非常有效的試驗。能較靈敏地反映出設(shè)備絕緣情況,發(fā)現(xiàn)設(shè)備缺陷。
電阻率測定儀主要用于測量炭制品和石墨制品以及其它導(dǎo)電棒狀材料在實驗室常溫下的電阻率，包括粉體材料。